粒度分析儀器

動態光散射（DLS）和Zeta電位
動態光散射（DLS），也稱為光子相關光譜法（PCS），是測量納米顆粒和大分子粒度分布的常用方法，分散在溶液中的微顆粒通常伴隨有布朗運動。顆粒小則運動快，顆粒大則運動慢。當激光照射伴有布朗運動的顆粒時，散射光強會有對應顆粒布朗運動的漲落?？赏ㄟ^對其產生的散射光斑進行相關性的計算來獲得顆粒的粒度和粒徑分布。

在大多數情況下，膠體粒子帶有正電荷或負電荷。在外電場的作用下，粒子向其極性相反的方向移動。顆粒在移動過程中受激光照射，其散射光的多普勒頻移取決于電泳遷移率。結合外差系統和光子相關方法進行相關函數的傅里葉變換（FFT）以得到多普勒頻譜，從而算出Zeta電位。

NanoPlus?  
納米粒度與Zeta電位儀

NanoPlus是獨特的利用光子相關光譜法和電泳光散射技術測量粒度、Zeta電位和分子量的儀器。該儀器結構緊湊、易于使用、分析范圍廣、帶有交互式軟件和多個樣品池，滿足不同用戶的應用。

• 三種型號可選：納米粒度儀、Zeta電位儀，納米粒度與Zeta電位儀
• 測量懸浮液樣品粒度范圍：0.1nm~12.3μm，濃度范圍0.00001%~40%

ASTM: E2490
ISO: 13321, 22412, 13099-2

空氣滲透法
控制空氣以一定的流速流過顆粒床層，SAS利用兩個壓力傳感器測量空氣通過床層前后的壓力變化，改變顆粒床層的高度和孔隙率，使用Kozeny-Carman方程計算顆粒的SSA和平均粒徑。

Micromeritics SAS Subsieve AutoSizer?  
全自動費氏粒徑測試儀

麥克儀器SAS全自動費氏粒徑測試儀，是由費氏95粒徑儀（FSSS）發展和升級而來，空氣滲透技術是公認的粉體樣品比表面積（SSA）測試技術。使用該技術測定的SSA數據已經在多個行業廣泛使用，例如：藥物、金屬涂料、顏料和地質等行業

• 粒徑范圍：0.2-75μm
• 設計生產費氏粒度數據，保證數據一致性
• 安裝方便，實時數據顯示

ASTM: B330, C721

電阻法

Elzone II ?  
電阻法顆粒計數與粒度分析儀

ElzoneⅡ顆粒計數與粒度分析儀采用電阻法這種有效的顆粒粒度表征技術，適用于同時分析具有不同光學性質、密度、顏色和形狀的顆粒樣品可迅速、精確地檢測精細顆粒材料的尺寸、數目、濃度以及質量。ElzoneⅡ被廣泛應用于工業、生物、地質等粒度大于0.4μm的顆粒，具有極高的準確度和分辨率，操作非常簡便。

• 測量范圍：0.4到266μm，有機或者無機材料
• 可使用不同的導電液，不需要輸入液體性質參數
• 無需事先獲得材料性質參數（密度、折射率等）
• 全自動操作：啟動、運行、關閉、檢測并清除障礙物、沖洗和校準
• CCD照相機可實時視頻顯示光圈

ASTM: C690, D4438, F577
ISO: 13319

X光沉降
沉降法是從均相液體中分析不同大小的固體顆粒物。通過對X-射線的吸收測量可以直接檢測分離固體顆粒物的質量濃度。測定一定密度顆粒在已知密度和粘度的液體中的沉降，即可以運用Stokes方程來計算顆粒的等效球直徑。在這種情況

SediGraph III Plus ?  
全自動X光沉降粒度分析儀

結合成熟的SediGraph分析技術，SediGraph III通過對X-射線的吸收測量可以直接檢測分離固體顆粒物的質量濃度，無需模型，儀器有很好的重復性、精確性和重現性。

• 粒度范圍：0.1到300μm
• 高精度X射線管，7年保修
• 可選的MasterTech 052自動進樣器進行18個樣品的自動分析

ASTM: B761, C958, C110
ISO: 13317-3

動態圖像法

Particle Insight?  
全自動粒形分析儀

Particle Insight是一款現代化的動態圖像分析儀，對于那些不僅由于顆粒大小，并且也必須由顆粒形狀來確定原材料性能的應用，Particle Insight是理想的工具。

• 三種型號-1到150μm, 3到300μm, 10到800μm
• 具有獨特的光學、高幀頻、高分辨率的攝像頭，使數萬的顆粒分析能在幾秒內完成。所有形狀參數的數據實時顯示
• 30種尺寸/形狀參數可選，更精確的客戶控制
• 所有分析過的粒子都有縮略圖，用來篩選與察看指定形狀的顆粒。從單個粒子圖像捕獲參數，可用來監測罕見顆粒
• 循環樣品模塊和類似激光衍射系統的光學系統能夠在徆短的時間內統計有效測量。標準系統適用于水相和有機液體
• 適用于水或有機溶液

ISO: 13322-2

靜態光散射
顆粒的大小可以通過散射光來測定，根據光散射原理，我們通過在實驗中在不同角度接收到的光強可以用Mie或Fraunhofer理論來計算顆粒的粒徑。

Saturn DigiSizer II ?  
全自動高分辨率激光粒度儀

采用航天級的電荷耦合器CCD技術和超過三百萬個檢測器保證儀器獲得極高的分辨率和完美的數字化散射圖樣以獲得極高重現性的結果，即使對于復雜材料也可以獲得高分辨率的結果。

• CCD檢測器提供40納米到2.5毫米范圍內高分辨率檢測
• 測試速度快，高重現性試驗數據
• 自動進樣器可完成自動采樣、稀釋和分散樣品

ASTM: B822, C1070, D4464
ISO: 13320